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測試原理
通過軟件程序控制,讓射線發生路產生適合的K射線去激發則試薄膜材料中的Sl或者其他元素,被X射線激發后變為不穩定態,高能層的電子會躍遷到空穴并同時釋放特定能里被探則器接收,因每個元素都有自已特定
的能量特征線,通過探測器的識別,計算機軟件的計算,即可準確識別該元素,并計算出含量。
儀器采用了大面積的晶體硅漂移探測器,分辨率能夠達到125eV,能分辨AI(鋁)元素和Si(硅)元素
技術特點
,測試采用X射線熒光光譜原理,測試過程無需耗材配置高清液晶顯示器,測試過程和測試結果一目了然光管垂直照射,硅元素性能得到更強激發設備集成多個usb接口,數據和通訊傳輸滿足多種要求測試下限好,可準確測量0.01g/m2的涂硅量空氣光路內部環境得到顯著優化,大氣環境-樣可以直接測試采用大面積硅漂移探測器,測試結果極其準確一鍵測試/操作簡單智能,測試過程使用時間更短,結果更準確
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