德國菲希爾熒光鍍層測厚及材料分析儀

熒光光譜鍍層厚度測量儀膜厚測試儀優點

德國設計 ，技術先進

一個軟件實現鍍層厚度測量和材料分析兩個功能

擴展統計功能。例如，測量結果可以記錄并轉為SPC圖表顯示

圖像識別：WinFTM可以自行查找預設的測量位置

基于基本參數分析的無標準片測量：在手邊樣本組成未知的情況下實現精確的測量結果

距離控制測量（DCM）：允許通過快速更改測量距離，在不需要設置和校準另一個測量任務的情況下，測量不同高度的測試部件。軟件能夠識別測量的距離，并自動校正評估。

測量質量：我們的儀器可以判斷您的測量質量。錯誤地選擇了錯誤的測量任務或測量了錯誤的樣品？您的FISCHERSCOPE儀器會提醒您

任務程式：只需單擊一下，幾乎可以對WinFTM軟件中執行的所有操作進行編程并執行。例如，一項任務可以自動測量多個合金樣品。 X射線儀器將XY工作臺移動到樣品位置，加載每個合金特定的測量條件，最后根據您的需要生成測試報告

FISCHERSCOPE X射線熒光儀器

在無損無接觸的涂層厚度測量和材料分析領域，FISCHERSCOPE X射線儀器是理想的選擇。自1983年以來，我們的X射線儀器已成為幾乎所有主要行業質量測試的一個組成部分。我們的儀器以其精確性、準確性和耐用性而聞名。同時，FISCHERSCOPE X射線的設計易于使用，并在測量的各個方面為您提供支持。 這使您可以專注于手頭上的質量工作，而不是測量儀器上。

我們的X射線儀器配有專用的FischerWinFTM軟件，旨在規范測量過程。這包括控制X射線、實現測量的可追溯性、生成個性化測量報告以及與內部網絡交互。

我們種類齊全的X射線設計用于高可靠性地測量不同的應用。電子、電鍍、汽車、黃金和珠寶等領域的公司以及更多的公司都依賴于FISCHERSCOPE X射線儀器進行質量控制?，F在就來看看我們的X光儀器并找出原因吧！

德國菲希爾熒光鍍層測厚及材料分析儀

FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 230
熒光光譜鍍層厚度測量儀膜厚測試儀，采用手動方式，測量和分析印刷電路板、防護及裝飾性鍍層及大規模生產的零部件上的鍍層。


FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 237
X 射線熒光材料分析及鍍層測厚儀，配備可編程運行 X/Y 工作臺及 Z 軸升降系統，全自動測量超薄鍍層厚度和分析材料成分。


FISCHERSCOPE® X-RAY XULM® 240
X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀，用于無損測量鍍層厚度及分析材料成分


FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 250
FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 252
高性能X射線熒光材料分析及鍍層測厚儀，用于快速、無損分析材料成分及測量鍍層厚度